美国吉时利KEITHLEKE 2612型双通道系统源表仪:
主要特点及优点:
1. 接触检测功能确保了高速及准确的测量
2. 内置的测试脚本处理器(TSP?)提供非并行系统的自动化测试,将I-V测试的速度提高到同类产品的二到四倍
3. TSP-Link?主/从控制架构将多台2600数字源表无缝地整合成一个系统,将其作为一台独立的仪器进行编程和控制
4. Script Builder,可以轻松地创建功能强大的测试脚本,实现用户特定的测试功能
5. 软件,无需编程直接得到半导体I-V 特性曲线,易学易用
6. 业界最高的SMU机架密度特别适合自动化测试的应用
应用:
8. 1. 对多种器件进行I-V函数测试和特性分析,包括:
2. 分立的和无源的元器件
3. 双引脚–电阻、盘驱动器头、金属氧化物变阻器(MOV)、二极管、齐纳二极管、传感器、电容器、热敏电阻
4. 三引脚–双极型小信号晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)等
5. 并行测试–双引脚、三引脚元器件阵列
6. 简单集成电路–光学、驱动器、开关、传感器
7. 集成的器件-小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI):
模拟IC
8. 射频集成电路(RFIC)
9. 应用定制的集成电路
10. 系统级芯片(SOC)器件
11. 光电器件如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、12。 显示器
13. 上述器件的研发和特性分析
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